透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種利用高能電子束穿透樣品，通過(guò)電磁透鏡成像的高分辨率顯微技術(shù)，能夠揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)、晶體缺陷、化學(xué)成分等信息。其核心原理基于電子與物質(zhì)的相互作用，結(jié)合電磁透鏡的聚焦與放大功能，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)甚至原子級(jí)的觀測(cè)。以下是TEM的詳細(xì)原理、結(jié)構(gòu)、成像模式......